Platforma Discovery Xenon Flash DXF 900 dispune de o sursă patentată High-Speed Xenon-pulse Delivery™ (HSXD) și de un Light Pipe™ multifațetat anamorfic.
Împreună, aceste optici furnizează specimenului un impuls de lumină de o putere de neegalat și de o intensitate uniformă, prevenind în același timp supraaprinderea suportului de probă.
Designul-ul TA Instruments High-energy Xenon este capabil să testeze eșantioane cu un diametru de până la 25,4 mm la o temperatură cuprinsă între temperatura ambiantă și 900°C.
Utilizarea probelor mari diminuează erorile asociate cu neomogenitatea și permite măsurători reprezentative ale compozitelor slab dispersate. Platforma DXF este concepută pentru programe de cercetare și dezvoltare, precum și pentru controlul producției.
SPECIFICATII
Sursă Laser
– Tip: Benchtop (de laborator)
– Energie puls variabilă: Până la 15 Jouli
– Durată puls: 400 µs până la 600 µs
– Optică de transfer proprietară: Patented Light Pipe Beam Guide
Cuptor
– Interval de temperatură: RT până la 900°C
– Atmosferă: Aer, gaz inert, vid (max. 50 mtorr)
Sistem de Detecție
– Interval de difuzivitate termică: 0.01 până la 1000 mm²/s
– Interval de conductivitate termică: 0.1 până la 2000 W/(m·K)
– Achiziție de date: 16-bit
Acuratețe
– Difuzivitate termică: ±2.3%
– Conductivitate termică: ±4%
Repetabilitate
– Difuzivitate termică: ±2.0%
– Conductivitate termică: ±3.5%
Dimensiuni Probe
– Rotunde: 8, 10, 12.7, & 25.4 mm diametru
– Pătrate: 8, 10, & 12.7 mm lungime
– Grosime maximă: 10 mm
Autosampler
– Tip: Tavă cu patru poziții, gaz inert, vid (max. 50 mtorr)
TEHNOLOGIE SI CARACTERISTICI PRINCIPALE
- Sursă de flash Xenon cu energie variabilă de până la 15 Jouli, optimizată pentru distribuția uniformă a căldurii în probă.
- Sistem optic brevetat „Light Pipe Beam Guide”, care maximizează eficiența energetică și precizia măsurătorilor.
- Interval larg de temperatură (RT până la 900°C), oferind posibilitatea testării materialelor în condiții extreme.
- Compatibilitate cu mai multe atmosfere de testare, inclusiv aer, gaz inert și vid (până la 50 mtorr), permițând analiza materialelor sensibile.
- Gamă extinsă de măsurare a difuzivității termice (0.01 – 1000 mm²/s) și a conductivității termice (0.1 – 2000 W/mK), potrivită pentru materiale cu proprietăți izolatoare și conductoare.
- Precizie ridicată, cu erori de ±2.3% pentru difuzivitate termică și ±4% pentru conductivitate termică.
- Sistem de achiziție a datelor pe 16 biți, optimizat pentru o rezoluție și reproductibilitate superioare.
- Autosampler cu 4 poziții, care permite testarea automatizată a mai multor probe, crescând eficiența testelor.
