Platforma Discovery Xenon Flash DXF 500 dispune de o sursă patentată High-Speed Xenon-pulse Delivery™ (HSXD) și de un Light Pipe™ multifațetat anamorfic.
Împreună, aceste optici furnizează specimenului un impuls de lumină de o putere de neegalat și o intensitate uniformă, prevenind în același timp supraaprinderea suportului de probă.
Designul cu xenon de înaltă energie de la TA Instruments este capabil să testeze probe cu un diametru de până la 25,4 mm la o temperatură cuprinsă între temperatura ambiantă și 500°C.
Utilizarea probelor mari diminuează erorile asociate cu neomogenitatea și permite măsurători reprezentative ale compozitelor slab dispersate. Platforma DXF este concepută pentru programe de cercetare și dezvoltare, precum și pentru controlul producției.
SPECIFICATII
Sursă Laser
– Tip: Benchtop (de laborator)
– Energie puls variabilă: Până la 15 Jouli
– Durată puls: 400 µs până la 600 µs
– Optică de transfer proprietară: Patented Light Pipe Beam Guide
Cuptor
– Interval de temperatură: RT până la 500°C
– Atmosferă: Aer, gaz inert, vid (max. 50 mtorr)
Sistem de Detecție
– Interval de difuzivitate termică: 0.01 până la 1000 mm²/s
– Interval de conductivitate termică: 0.1 până la 2000 W/(m·K)
– Achiziție de date: 16-bit
Acuratețe
– Difuzivitate termică: ±2.3%
– Conductivitate termică: ±4%
Repetabilitate
– Difuzivitate termică: ±2.0%
– Conductivitate termică: ±3.5%
Dimensiuni Probe
– Rotunde: 8, 10, 12.7, & 25.4 mm diametru
– Pătrate: 8, 10, & 12.7 mm lungime
– Grosime maximă: 10 mm
Autosampler
– Tip: Tavă cu patru poziții, inert, vid, max. 50 mtorr
TEHNOLOGIE SI CARACTERISTICI PRINCIPALE
- Sursă de flash Xenon cu energie variabilă de până la 15 Jouli, permițând o distribuție uniformă a căldurii în probă.
- Sistem optic avansat „Light Pipe Beam Guide”, brevetat pentru direcționarea precisă a fasciculului.
- Interval de temperatură extins, de la temperatura camerei până la 500°C, oferind posibilitatea testării materialelor într-o gamă largă de condiții.
- Atmosferă controlată, inclusiv aer, gaz inert și vid (până la 50 mtorr), pentru optimizarea testelor în funcție de necesități.
- Gamă extinsă de măsurare a difuzivității termice (0.01 – 1000 mm²/s) și a conductivității termice (0.1 – 2000 W/mK), acoperind atât materiale izolatoare, cât și foarte conductoare.
- Precizie ridicată, cu erori de ±2.3% pentru difuzivitate termică și ±4% pentru conductivitate termică.
- Autosampler cu 4 poziții, care permite testarea automatizată a mai multor probe pentru eficiență sporită.
